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Table of Contents - Volume 422 - 1996 MRS Spring Meeting - Symposium D – Rare-Earth Doped Semiconductors II
Editors: S. Coffa, A. Polman, R.N. Schwartz
W. Jantsch, H. Przybylinska, C. Skierbiszewski, S. Lanzerstorfer and L. Palmetshofer
Copyright © Materials Research Society 1996
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-101 (About DOI)
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S. Libertino, S. Coffa, R. Mosca and E. Gombia
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-113 (About DOI)
J. Hartung, J. H. Evans, P. Dawson, A. P. Sciioles, T. Taskin, M. Q. Huda, C. Jeynes and A. R. Peaker
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-119 (About DOI)
N. A. Sobolev, O. V. Alexandrov, M. S. Bresler, V. V. Emtsev, O. B. Gusev, D. S. Poloskin and E. I. Shek
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-125 (About DOI)
S. J. Chang, D. K. Nayak and Y Shiraki
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-131 (About DOI)
R. White, X. Wu, U. Hömmerich, F. Namavar and A. M. Cremins-Costa
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-137 (About DOI)
Xinwei Zhao, Shuji Komuro, Shinya Maruyama, Hideo Isshiki, Yoshinobu Aoyagi and Takuo Sugano
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-143 (About DOI)
T. Kimura, I. Hosokawa, Y. Nishida, T. Dejima, R. Saito and T. Ikoma
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-149 (About DOI)
J. Stimmer, A. Reittinger, G. Abstreiter, H. Holzbrecher and Ch. Buchal
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-15 (About DOI)
M. Tabuchi, D. Kawamura, K. Fujita, N. Matsubara, N. Yamada, H. Ofuchi, S. Ichiki, Y. Fujiwara and Y. Takeda
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-155 (About DOI)
Ingrid De Maat-Gersdorf, T. Gregorkiewicz, C. A. J. Ammerlaan, P. C. M. Christianen and J. C. Maan
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-161 (About DOI)
R. A. Hogg, K. Takahei, A. Taguchi and Y. Horikoshi
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-167 (About DOI)
S. E. Daly, M. O. Henry, E. Alves, J. C. Soares, R. Gwilliam, B. J. Sealy, K Freitag, R. Vianden and D. Stievenard
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-173 (About DOI)
Dieter Haase, Achim Dörnen, Kenichiro Takahei and Akihito Taguchi
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-179 (About DOI)
V. M. Konnov, T. V. Larikova, N. N. Loyko, V. A. Dravin, V. V. Ushakov and A. A. Gippius
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-187 (About DOI)
J. M. Zavada, R. G. Wilson, R. N. Schwartz, J. D. MacKenzie, C. R. Abernathy, S. J. Pearton, X. Wu and U. Hömmerich
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-193 (About DOI)
John T. Torvik, Robert J. Feuerstein, Chang H. Qiu, Moeljanto W Leksono, Jacques I. Pankove and Fereydoon Namavar
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-199 (About DOI)
T. Gregorkiewicz, I. Tsimperidis, C. A. J. Ammerlaan, F. P. Widdershoven and N. A. Sobolev
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-207 (About DOI)
A. Polman, R. Serna, J. S. Custer and M. Lohmeier
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-21 (About DOI)
M. J. A. De Dood, P. G. Kik, J. H. Shin and A. Polman
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-219 (About DOI)
V. F. Masterov and L. G. Gerchikov
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-227 (About DOI)
A. Polman, Jung H. Shin, R. Serna, G. N. Van Den Hovenb, W. G. J. H. M. van Sark, A. M. Vredenberg, S. Lombardo and S. U. Campisano
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-239 (About DOI)
B. W. Wessels
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-247 (About DOI)
Peter Wellmann, Albrecht Winnacker and Gerhard Pensl
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-255 (About DOI)
K. Takahei, R. A. Hogg and A. Taguchi
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-267 (About DOI)
T. D. Culp, X. Z. Wang, T. F. Kuech, B. W. Wessels and K. L. Bray
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-279 (About DOI)
U. K. Saha and H. J. Lozykowski
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-285 (About DOI)
M. R. Bennett, K. E. Singer, A. C. Wright and Z. H. Jafri
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-29 (About DOI)
M. Godlewski
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-291 (About DOI)
Morito Matsuoka and Shun-Ichi Tohno
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-3 (About DOI)
F. Priolo, S. Coffa, G. Franzo and A. Polman
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-305 (About DOI)
J. Michel, B. Zheng, J. Palm, E. Ouellette, F. Gan and L. C. Kimerling
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-317 (About DOI)
I. N. Yassievich, O. B. Gusev, M. S. Bresler, W. Fuhs, A. N. Kuznetsov, V. F. Masterov, E. I. Terukov and B. P. Zakharchenya
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-325 (About DOI)
S. Lombardo, S. U. Campisano, G. N. Van Den Hoven and A. Polman
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-333 (About DOI)
M. Yoganathan, W. J. Choyke, R. P. Devaty, G. Pensl and J. A. Edmond
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-339 (About DOI)
G. M. Ford and B. W. Wessels
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-345 (About DOI)
P. Rutter, K. E. Singer, A. R. Peaker and A. C. Wright
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-35 (About DOI)
S. J. Chang
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-351 (About DOI)
B. J. H. Stadler and J. P. Lorenzo
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-357 (About DOI)
M. Morse, B. Zheng, J. Palm, X. Duan and L. C. Kimerling
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-41 (About DOI)
S. J. Pearton, C. R. Abernathy, J. D. MacKenzie, R. N. Schwartz, R. G. Wilson, J. M. Zavada and R. J. Shul
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-47 (About DOI)
P. S. Andry, W. J. Varhue, E. Adams, M. Lavoie, P. B. Klein, R. Hengehold and J. Hunter
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-57 (About DOI)
A. C. Greenwald, K. J. Linden, W. S. Rees, O. Just, N. M. Haegel and S. Donder
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-63 (About DOI)
E. Silkowski, Y. K. Yeo, R. L. Hengehold, B. Goldenberg and G. S. Pomrenke
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-69 (About DOI)
K. Nakashima, O. Eryu, O. Iioka, H Minami and M. Watanabe
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-75 (About DOI)
H. Horiguchi, T. Kinone, R. Saito, T. Kimura and T. Ikoma
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-81 (About DOI)
S. Binetti, M. Acciarri, I. Gelmi and S. Pizzini
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-87 (About DOI)
Chi Sheng, Yongming Cai, Dawei Gong, Darning Huang, Xiaohan Liu and Xun Wang
DOI: http://dx.doi.org/10.1557/PROC-422-93 (About DOI)